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基于光纤微弯损耗的通用型压力感测装置

摘要

本发明公开了一种基于光纤微弯损耗的通用型压力感测装置,包括一圆柱形腔体,所述的圆柱形腔体的一端是由一基板封闭,另一端固定有波纹片,在所述的基板和波纹片之间固定有包含信号光纤的多层微弯元件。当被测压力作用在波纹片时,波纹片变形并将该力值传递给多层微弯元件,引起多层微弯元件压缩,使包含在多层微弯元件内的信号光纤的弯曲曲率变化,从而使传输于信号光纤内的光信号功率有显著的变化,通过测试单元的检测,达到了测定压力的大小。由于采用了多层微弯元件,延长了信号光纤的有效长度,并减少了信号光纤的弯曲曲率,从而在提高该装置的精度同时,大大延长了信号光纤的使用寿命,使本发明的装置具有广阔的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN102374913A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安金和光学科技有限公司;

    申请/专利号CN201010264423.6

  • 发明设计人 杜兵;

    申请日2010-08-17

  • 分类号G01L1/24;G01L11/02;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 710075 陕西省西安市高新区高新四路丹枫国际B座1501室

  • 入库时间 2023-12-18 04:34:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01L1/24 申请公布日:20120314 申请日:20100817

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-03-14

    公开

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