首页> 中国专利> 计数速率测量方法和装置

计数速率测量方法和装置

摘要

本发明涉及裂变室计数速率测量装置,并涉及相关的裂变室校准装置。所述计数速率测量装置包括:测量室(1),其容纳所述裂变室(CH);中子产生器(6),其以周期性脉冲的形式朝所述裂变室发射中子;中子计数器(K),其对由所述中子产生器发射的中子进行探测和计数;以及计算电路(34),其在预定的时间间隔上馈送参照由所述中子计数器(K)计数的中子数进行了归一化的裂变室计数速率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T 3/00 授权公告日:20121121 终止日期:20161222 申请日:20081222

    专利权的终止

  • 2012-11-21

    授权

    授权

  • 2012-11-21

    授权

    授权

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 3/00 申请日:20081222

    实质审查的生效

  • 2011-02-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 3/00 申请日:20081222

    实质审查的生效

  • 2010-12-15

    公开

    公开

  • 2010-12-15

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号