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高分辨率亚像元成像技术实现的方法和系统

摘要

本发明公开了一种高分辨率亚像元成像技术实现的方法及系统,包括:普通面阵CMOS探测器;面阵CMOS探测器驱动与数据采集板;光学镜头和二维平移精密光学调节架。通过对普通面阵CMOS探测器进行一定方式的二维平移可以实现成像系统的亚像元探测,以进行亚像元探测技术研究。本发明的优点是利用灵活的二维平移机械结构使普通面阵CMOS探测器成像系统进行亚像元探测,能够避免定制特殊探测器,并且通过对二维平移位移量的控制可以灵活研究图像不同配准精度亚像元探测技术效果的影响,从而实现短周期内低成本下进行更加接近工程化的亚像元技术研究。

著录项

  • 公开/公告号CN101299099A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海技术物理研究所;

    申请/专利号CN200810035324.3

  • 申请日2008-03-28

  • 分类号G02B27/58;G01S17/89;

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人郭英

  • 地址 200083 上海市玉田路500号

  • 入库时间 2023-12-17 20:58:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-07-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02B27/58 公开日:20081105 申请日:20080328

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-12-31

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-11-05

    公开

    公开

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