液晶显示面板装置及其测试方法

摘要

本发明公开了一种液晶显示面板装置及其测试方法，该液晶显示面板装置包含一像素阵列、一第一共通电极端、一第二共通电极端、多个第一电流方向组件以及多个第二电流方向组件。该像素阵列包含多条共通电极线。各该第一电流方向组件串接于各该共通电极线的第一侧及该第一共通电极端之间；各该第二电流方向组件串接于各该共通电极线的第二侧及该第一共通电极端之间。该第二共通电极端连接于各该第一电流方向组件及各该共通电极线的第一侧之间。测试时流经各该共通电极线的电流朝单一方向，以检测该共通电极线的缺陷。

说明书

技术领域

本发明关于一种液晶显示面板装置及其测试方法，特别是用于检测共通电极线是否有缺陷的液晶显示面板装置及其测试方法。

背景技术

液晶显示器由于具有薄型化、重量轻、低耗电及低辐射等优点，已广泛用于现今的显示应用。液晶显示器主要包含液晶面板及背光模块，利用背光模块提供液晶面板的光源，且以电信号控制液晶面板液晶分子方向，以显示影像。

由于液晶面板的优劣会直接影响其显示质量，因此为维持和确保液晶面板质量的稳定，液晶面板制作出来后，一般需要进行测试，以期发现是否有缺陷存在。

图1显示现有的液晶面板的像素阵列电路图。一液晶显示面板装置10中，扫描线12及数据线13分别于横向及纵向交织连接形成一包含多个像素单元19的像素阵列11。另，共通电极线14亦于横向与多个像素单元19形成连接。像素单元19包含像素电极15，而储存电容16连接于共通电极线14与像素电极15之间。另外，TFT晶体管17连接于扫描线12、共通电极线14及数据线13。

当进行面板像素阵列的缺陷测试，阵列共通电极端18采用双边导通的方式连接至共通电极线14，亦即同一共通电极线14的两端均连接至阵列共通电极端18，以接收阵列共通电极端18所传来的信号。另外，该共通电极线14亦接收IC信号输入，其用于测试后的模块阶段接收共通电极信号之用。

参照图2，其中箭头显示共通电极测试时的电流方向。由于阵列共通电极端18采用双边导通的方式连接至共通电极线14，测试电流的流向将由共通电极线14的两端向中间方向流入。按此现有的结构，若共通电极线14中因有缺陷而形成开路(open)，因电流于共通电极线14的流向是由两端流入，故无法测出和发现共通电极线14中的开路缺陷，进而影响面板出货的质量。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一液晶显示面板装置及其测试方法，可检测共通电极线是否有缺陷，以确保面板制造质量。

根据本发明的第一方面，其揭示一液晶显示面板装置。该液晶显示面板装置包含一像素阵列、一第一共通电极端、一第二共通电极端、多个第一电流方向组件以及多个第二电流方向组件。该像素阵列包含多条共通电极线。各该第一电流方向组件串接于各该共通电极线的第一侧及该第一共通电极端之间；各该第二电流方向组件串接于各该共通电极线的第二侧及该第一共通电极端之间。该第二共通电极端连接于各该第一电流方向组件及各该共通电极线的第一侧之间。测试时流经各该共通电极线的电流朝单一方向，以检测该共通电极线的缺陷。

本发明一实施例中，该第一及第二电流方向组件为二极管，其中该第一电流方向组件限制电流不得由该第二共通电极端经该第一电流方向组件流向该第一共通电极端；该第二电流方向组件限制电流不得由该共通电极线的第二侧经该第二电流方向组件流向该第一共通电极端。据此，于测试时，电流由共通电极线的第一侧流向第二侧。

根据本发明的第二方面，其揭示一液晶显示面板装置的测试方法。该液晶显示面板包含一像素阵列及一第一共通电极端。该测试方法用于检测该像素阵列的共通电极线的缺陷，其包含以下步骤：(a)各别串接一第一电流方向组件于各该共通电极线的第一侧与该第一共通电极端之间；(b)各别串接一第二电流方向组件于各该共通电极线的第二侧与该第一共通电极端之间；(c)提供一第二电极端电连接于各该第一电流方向组件及各该共通电极线的第一侧之间；以及(d)测试时分别施加不同电压于该第一共通电极端及该第二共通电极端，使得流经各该共通电极线的电流朝单一方向。

根据本发明，测试时可有效解决现有技术采用双边导通而无法检测共通电极线的缺陷的问题，且本发明的设计并不需改变于测试完后的IC输入共通电极的驱动电压，而仍可正常运作。

附图说明

为更完整的理解本发明及其优点，参考以下结合伴随的附图的叙述，

图1为现有的液晶显示面板装置的示意图；

图2为现有的液晶显示面板装置的共通电极的电流流向示意图；

图3为本发明的液晶显示面板装置的示意图；

图4为本发明的液晶显示面板装置的共通电极的电流流向示意图；

图5为本发明的液晶显示面板装置的共通电极有开路时的电流流向示意图；以及

图6为本发明的液晶显示面板装置的测试方法示意图。

【主要组件符号说明】

10  液晶显示面板装置                11  像素阵列

12  扫描线                          13  数据线

14  共通电极线                      15  像素电极

16  储存电容                        17  TFT晶体管

18  阵列共通电极端                  19  像素单元

20  液晶显示面板装置                21  像素阵列

22  扫描线                          23  数据线

24  共通电极线                      25  像素电极

26  储存电容                        27  TFT晶体管

28  第一共通电极端                  29  像素单元

30  第二共通电极端                  32  电流方向组件

34  电流方向组件                    36  开路位置

601～604  步骤

具体实施方式

以下详细讨论该目前较佳实施例的制作和使用。不过，应当理解，本发明提供许多可应用的发明概念，其可在各种各样的具体情况下实施。该讨论的具体实施例仅说明了制作和使用该发明的具体方式，并没有限制本发明的范围。

图3为绘示本发明的液晶显示面板装置。一液晶显示面板装置20中，扫描线22及数据线23分别于横向及纵向交织连接形成一包含多个像素单元29的像素阵列21。另，共通电极线24亦在横向与多个像素单元29形成连接。像素单元29包含像素电极25，而储存电容26连接于共通电极线24与像素电极25之间。另外，TFT晶体管27连接于扫描线22、共通电极线24及数据线23。

第一共通电极端28连接至共通电极线24的两端，亦即同一共通电极线24的两端均连接至第一共通电极端28。该共通电极线24亦连接IC信号输入端以接收测试后模块阶段的共通电极信号。

除上述类似于现有的第一共通电极端28的设计外，第二共通电极端30连接于共通电极线24的第一侧A。

另外，各共通电极线24的第一侧A和第一共通电极端28之间串接电流方向组件32。进一步言的，第二共通电极端30连接于第一电流方向组件32及共通电极线24的第一侧A之间。各共通电极线24的第二侧B和第一共通电极端28之间串接电流方向组件34。于本实施例中，该电流方向组件32及34可包含至少一个二极管，其中电流方向组件32的正极连接第一共通电极端28，其负极则连接共通电极线24的第一侧A；电流方向组件34的正极连接第一共通电极端28，其负极则连接共通电极线24的第二侧B。因二极管具有正偏压导通及负偏压截止的特性，故电流方向组件32限制各该共通电极线24的电流不得由第二共通电极端30经电流方向组件32流向第一共通电极端28；电流方向组件34限制各该共通电极线24的电流不得由共通电极线24的第二侧B经电流方向组件34流向第一共通电极端28。

一实施例中，第一共通电极端28的电压为-25V，第二共通电极端30的电压为-15V。于共通电极线24的第一侧A，第一共通电极端28的电压位准小于第二共通电极端30的电压位准，也就是说，此时电流方向组件32的两端为逆偏压状态，所以电流方向组件32为关闭状态(turn-off)。第二共通电极端30的电流将被电流方向组件32限制而无法流向第一共通电极端28。类似的情况，在共通电极线24的第二侧B，第一共通电极端28的电压位准小于共通电极线24的第二侧B的电压位准，也就是说，此时电流方向组件34的两端为逆偏压状态，所以电流方向组件34为关闭状态(turn-off)。共通电极线24的电流将被电流方向组件34限制而无法流向第一共通电极端28。如此一来，测试时由第二共通电极端30提供一测试信号，使得流经各共通电极线24的电流均流向单一方向，如图4中箭号所示。据此，本发明的测试装置的共通电极线的电流均流向单一方向(由共通电极线24的第一侧A流向第二侧B)，故可有效解决现有采用双边驱动设计时，无法检测出共通电极线开路的问题。

如图5所示，当共通电极线24于显示区中有缺陷发生时，例如开路时(图5例示一开路位置36)，因为第二共通电极端30提供的测试信号只能由共通电极线24的第一侧A流向第二侧B，测试信号无法流过开路端，亦无法由共通电极线24的第二侧B流入像素阵列21，据此，可以成功地检测出共通电极线24的缺陷。于测试完成后，面板外的第一共通电极端28和第二共通电极端30将被切断。正常的IC输入共通电极的驱动电压例如是+5V，故其不受电流方向组件32和34的影响，可正常传输至共通电极线24，从而面板两侧均接收有共通电极信号，而不影响点亮结果。

本实施例提供第二共通电极端30与电流方向组件32、34限制测试信号的电流方向，在本实施例中，电流方向组件32、34为关闭状态(turn-off)，然本发明并不以此为限，本领域具有通常知识的技术人士亦可根据实际上使用的需要，适当地配置电流方向组件32、34以及第一共通电极端28的电压与第二共通电极端30的电压。

图6为本发明的一液晶显示面板装置的测试方法。在这里所述的液晶显示面板如上述所述的液晶显示面板20。请一并参考图5与图6，该测试方法用于检测像素阵列21的共通电极线24的缺陷，其包含以下步骤：

步骤601：分别串接第一电流方向组件32于各共通电极线24的第一侧A与第一共通电极端28之间；

步骤602：分别串接第二电流方向组件34在各共通电极线24的第二侧B与第一共通电极端28之间；

步骤603：提供第二电极端30电连接于各第一电流方向组件32及各共通电极线24的第一侧A之间；以及

步骤604：于一测试阶段时，分别提供不同电压值信号于第一共通电极端28及第二共通电极端30，使得流经各共通电极线24的电流朝单一方向。

在步骤604中，提供不同电压值信号于第一共通电极端28及第二共通电极端30时，第二共通电极端30可以是一测试信号，而第一共通电极端28的电压位准小于第二共通电极端30的测试信号的电压位准，因此可进一步限定流经各共通电极线24的电流由共通电极线24的第一侧A流向第二侧B。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。