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压容式传感器基片成腔方法

摘要

精度高、费用省、操作简便、质量稳定的压容式传感器基片成腔方法,加工步骤为:①在选取的硅片一面经氧化形成二氧化硅层;②在二氧化硅层上面涂覆光刻胶层,经曝光、显影,形成微结构凹腔Ⅰ其底面物质为二氧化硅;③以光刻胶层为掩膜,用ICP等离子刻蚀技术在所述微结构凹腔Ⅰ内刻蚀二氧化硅层,形成微结构凹腔Ⅱ其底面物质为硅;④去除所述光刻胶层;⑤再次涂覆光刻胶层,经曝光、显影,形成与所述微结构凹腔Ⅱ对应的微结凹腔Ⅲ;⑥以光刻胶层为掩膜,用等离子刻蚀技术在所述微结构凹腔Ⅲ内刻蚀硅片至一深度;⑦去除光刻胶层,得到具有微结构凹腔Ⅳ的基片。本发明适合制作压器式传感器基片。

著录项

  • 公开/公告号CN101114591A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州科岛微电子有限公司;厦门大学;

    申请/专利号CN200610052619.2

  • 发明设计人 赵玉成;陈旭远;

    申请日2006-07-25

  • 分类号H01L21/3065;B81C1/00;G01L9/12;G01L1/14;

  • 代理机构浙江杭州金通专利事务所有限公司;

  • 代理人梁寅春

  • 地址 310021 浙江省杭州市江干区机场路158号

  • 入库时间 2023-12-17 19:41:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-04-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/3065 公开日:20080130 申请日:20060725

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-07-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-30

    公开

    公开

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