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用于校准电磁测量装置的方法和设备

摘要

公开了用于测量与基底(210)关联的电磁辐射响应特性并校准电磁测量装置(100)的方法和设备。方法和设备产生电磁波,波穿过第一偏振滤光器,再从基底反射并穿过相对于第一偏振滤光器成交叉偏振排列的第二偏振滤光器,然后产生的波的一部分被方法和设备捕获。另外,设备捕获穿过衰减滤光器并从一个或多个校准基准反射过来的电磁波。数字数据从捕获到的电磁波确定。数字数据用来重新校准设备。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-11

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/27 公开日:20071121 申请日:20051012

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2008-01-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-11-21

    公开

    公开

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