首页> 中国专利> 在透镜耦合SOI基光学系统中降低波长敏感度的装置

在透镜耦合SOI基光学系统中降低波长敏感度的装置

摘要

一种用于多波长光信号的光学耦合系统,在自由空间光束和SOI结构内很薄的表面层(“SOI”层)之间提供增强的耦合效率,允许在预定波长范围内获得足够的耦合效率(大于50%)。设在耦合棱镜和SOI层之间的倏逝耦合层特别构造为来增强耦合效率。在一个实施例中,倏逝层的厚度减小到低于单一波长的最佳值,减小的厚度在确定中心波长的预定波长范围内增强了耦合效率。可选择地,可以使用锥形厚度的倏逝耦合层来增强耦合效率(或组合使用减小厚度和锥形配置)。可以将光束控制和改进的倏逝耦合层组合使用来控制输入光束的发射角并进一步增强耦合效率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-01-17

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2006-06-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号