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一种评估无机纳米氧化物粉体紫外屏蔽性能的方法

摘要

一种评估无机纳米氧化物粉体紫外屏蔽性能的方法,涉及材料的紫外屏蔽性能评估技术。首先制定评估标准为:其通过320nm处波长的紫外吸光度值A≥1.0、1.0>A≥0.5和0.5>A时紫外屏蔽性能分别为优良、合格和不合格。然后用超声法制备待测无机纳米氧化物粉体悬浊液,并将悬浊液装入特制的立方体型评估池。接着用评估仪测定无机纳米氧化物粉体的紫外吸光度值A。最后将测得的吸光度值A与评估标准作比较,就得到了该无机纳米氧化物粉体紫外屏蔽性能。本发明的悬浊液能长时间稳定,其测定过程简单、快速、误差小,可信度高、评估成本低、容易推广和普及。本发明的方法为无机纳米氧化物粉体材料在紫外防护产业中的应用提供了直接筛选的手段和标准。

著录项

  • 公开/公告号CN1587995A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2005-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东师范大学;

    申请/专利号CN200410052747.8

  • 申请日2004-07-12

  • 分类号G01N21/33;G01N1/38;

  • 代理机构上海德昭专利事务所;

  • 代理人陈龙梅

  • 地址 200062 上海市中山北路3663号

  • 入库时间 2023-12-17 15:55:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-01-24

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2005-05-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-03-02

    公开

    公开

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