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用于低相干性测量和高相干性测量的干涉仪设备及方法

摘要

斐索型干涉仪设备用于低相干性测量和高相干性测量。在利用低相干光通量辐照参考面和样本时,光程匹配通道把低相干光通量分成第一光程和第二光程,而传输通过这两个光程的各自光通量之间光程长差等于参考面与样本之间光程的两倍。在利用高相干光通量辐照参考面和样本时,在与低相干光通量同轴的位置上,使高相干光通量入射到光程匹配通道的样本侧。

著录项

  • 公开/公告号CN1517672A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2004-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士写真光机株式会社;

    申请/专利号CN200410002479.9

  • 发明设计人 植木伸明;

    申请日2004-01-20

  • 分类号G01B9/02;G01B11/30;

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人蒋世迅

  • 地址 日本埼玉县

  • 入库时间 2023-12-17 15:26:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-03-01

    授权

    授权

  • 2004-10-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-04

    公开

    公开

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