公开/公告号CN1517672A
专利类型发明专利
公开/公告日2004-08-04
原文格式PDF
申请/专利权人 富士写真光机株式会社;
申请/专利号CN200410002479.9
发明设计人 植木伸明;
申请日2004-01-20
分类号G01B9/02;G01B11/30;
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人蒋世迅
地址 日本埼玉县
入库时间 2023-12-17 15:26:25
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2006-03-01
授权
授权
2004-10-13
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-08-04
公开
公开
机译: 低相干性干涉仪,低相干性干涉仪和低相干性干涉测量方法
机译: 可见性增强的低相干性干涉仪通过插入锁定方法增强了很多反射光,而没有相位失真,而相移是通过测量低反射性材料的连续性(作为透明度)作为相干性而引起的
机译: 用于低和高相干性测量的干涉仪设备及其方法