内存模块测试修补方法及装置

摘要

一种内存模块测试修补方法及装置，其运用内存芯片中的备用存储单元，而于测试并发现内存模块故障时，记录其故障的内存地址，再以电气熔断方法来阻绝故障的内存地址的寻址路径，并选取一备用地址来取代，而无须再以人工方式更换出现故障的内存芯片，故可有效节省测试修补的人力与成本，并提高内存模块的生产量。