首页> 中国专利> 多次穿过的超稳干涉仪及其高精度测量相位的方法

多次穿过的超稳干涉仪及其高精度测量相位的方法

摘要

一种多次穿过的超稳干涉仪及其高精度测量相位的方法,设计了一个具有超稳结构的干涉仪,给出了在两束光中,一束穿过相移器(它的作用是产生一未知的相移φ)多次(即q次,q≥2)而获得相移qMφ,而另一束光不穿过相移器,但两束光在全过程中的相对光程(光程差)保持超稳定(即在子波纳米级范围内稳定),对这未知的相位φ进行高精度测量。使用这种超稳干涉仪,利用单光子(M=1)、M纠缠光子或时间上可区分的光子穿过相移器多次都可提高相位测量精度,并可打破标准量子极限。干涉仪简单可行,光程差超稳定:使用单光子、M纠缠光子和时间上可区分的光子多次穿过,都可提高测量精度,并打破标准量子极限。

著录项

  • 公开/公告号CN101710001B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河南科技大学;

    申请/专利号CN200910172731.3

  • 发明设计人 夏立新;陈翠云;

    申请日2009-11-26

  • 分类号

  • 代理机构郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈英超

  • 地址 471003 河南省洛阳市涧西区西苑路48号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 9/02 授权公告日:20121107 终止日期:20131126 申请日:20091126

    专利权的终止

  • 2012-11-07

    授权

    授权

  • 2010-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 9/02 申请日:20091126

    实质审查的生效

  • 2010-05-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号