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一种基于石墨烯量子点荧光探针阵列的金属离子检测方法

摘要

本发明公开了一种基于石墨烯量子点荧光探针阵列的金属离子检测方法。首先,用水热法制备石墨烯量子点,并以石墨烯量子点为原料进行石墨烯量子点的掺杂,依次制得氮掺杂的石墨烯量子点、磷掺杂的石墨烯量子点、硫掺杂的石墨烯量子点以及硼掺杂的石墨烯量子点;然后,用石墨烯量子点和掺杂的石墨烯量子点组成荧光探针阵列,记录各种金属离子引起的上述石墨烯量子点荧光强度的变化,用线性判别分析法来检测区分金属离子。本发明采用的传感器阵列制备方法简单,成本低,需要的样品量小;传感器阵列能达到100%的金属离子区分精确度;可以同时检测区分多种金属离子;检测周期短,可控性强;所用仪器简单,结果判定直观。

著录项

  • 公开/公告号CN111551532A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南通大学;

    申请/专利号CN202010574358.0

  • 申请日2020-06-22

  • 分类号G01N21/64(20060101);C09K11/65(20060101);C09K11/70(20060101);B82Y20/00(20110101);B82Y30/00(20110101);B82Y40/00(20110101);

  • 代理机构32249 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人许洁

  • 地址 226000 江苏省南通市啬园路9号

  • 入库时间 2023-12-17 11:20:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-18

    公开

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