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一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法

摘要

本发明涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法,属于光学元器件测量技术领域。本发明针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜,基于激光干涉仪和激光器,利用光的直线传播原理,分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置,通过对两个位置距离的测量,实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量,同时,降低了测量装置的复杂性。

著录项

  • 公开/公告号CN111272083A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202010211633.2

  • 申请日2020-03-24

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01M11/00(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11639 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张利萍

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-12-17 09:04:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20200324

    实质审查的生效

  • 2020-06-12

    公开

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