系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法

摘要

本发明提供一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法。该系统芯片包含一模拟前端电路、一数字实体层电路以及一内建自我测试电路。该数字实体层电路耦接至该模拟前端电路，且该内建自我测试电路耦接至该数字实体层电路并且用来借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试。