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测量导电材料的比表面积的方法

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摘要

本发明涉及一种通过电化学阻抗谱法测量导电材料的比表面积的方法和系统。

著录项

  • 公开/公告号CN111051865A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社LG化学;

    申请/专利号CN201980003770.2

  • 发明设计人 柳炳国;

    申请日2019-07-04

  • 分类号

  • 代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司;

  • 代理人李静

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2023-12-17 08:30:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/02 申请日:20190704

    实质审查的生效

  • 2020-04-21

    公开

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