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基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法,通过扫频信号源发送一定频带宽度内的多个频点电磁波,入射到等离子体中产生反射,测量反射信号的回波损耗,经过标定算法和去噪平滑处理后,得到由等离子引起的各个频率信号的复反射系数,反推解算得到各个频点对应的等离子体参数电子密度和碰撞频率;将复反射系数投影到复平面上,得到多频点数据拟合曲线,确定各个频点反推解算结果的置信度权值;将反推解算的各个频点对应的等离子体参数电子密度、碰撞频率分别与各自置信度权值相乘再求和,即得。本发明可以同时获得等离子体的电子密度和碰撞频率,且无需测量反射信号的时间延迟,准确度高。

著录项

  • 公开/公告号CN111200896A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202010038849.3

  • 申请日2020-01-14

  • 分类号H05H1/00(20060101);

  • 代理机构61237 西安知诚思迈知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人闵媛媛

  • 地址 710126 陕西省西安市长安区西沣路兴隆段266号

  • 入库时间 2023-12-17 08:08:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05H1/00 申请日:20200114

    实质审查的生效

  • 2020-05-26

    公开

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