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一种单晶金刚石生长过程的监测方法及监测设备

摘要

本发明提供一种单晶金刚石生长过程的监测方法及监测设备。该监测方法包括如下步骤:1)在单晶金刚石生长前,移动厚度监测设备在单晶金刚石晶种表面进行光学厚度测量,获得初始的单晶金刚石表面各检测处对应的厚度和位置数据;2)在单晶金刚石生长过程中,移动厚度监测设备在单晶金刚石表面进行光学厚度测量,获得生长过程中单晶金刚石表面各检测处对应的厚度和位置数据。该监测设备包括厚度监测设备;厚度监测设备包括厚度监测部件和物镜;厚度监测部件与物镜及移动平台连接,用于获得单晶金刚石表面各检测处对应的厚度和位置数据。该监测方法及装置可以实时监测单晶金刚石厚度,一旦局部在高度上可观测到明显的变化,进而决定是否中断生产。

著录项

  • 公开/公告号CN110823098A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海昌润极锐超硬材料有限公司;

    申请/专利号CN201911302735.9

  • 发明设计人 王垒;温简杰;

    申请日2019-12-17

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所(普通合伙);

  • 代理人金彦

  • 地址 201111 上海市闵行区陪昆路206号第18幢101室

  • 入库时间 2023-12-17 07:17:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20191217

    实质审查的生效

  • 2020-02-21

    公开

    公开

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