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公开/公告号CN110783171A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-02-11
原文格式PDF
申请/专利权人 应用材料公司;
申请/专利号CN201910694021.0
发明设计人 黄奕樵;仲华;
申请日2019-07-30
分类号
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;
代理人徐金国
地址 美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 06:51:40
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-02-11
公开
机译: 低温下选择性硅锗外延的方法
机译: 低温下的选择性硅锗外延方法
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机译:通过硅纳米尖端晶片上与图案无关的选择性锗异质外延进行无位错的锗纳米晶体
机译:亚微米级硅(001)窗口中硅锗选择性外延生长的负载效应
机译:通过离子注入和退火实现低弛豫位错密度的硅(001)上的全弛豫外延硅锗
机译:选择性外延生长技术,可在硅上集成高质量的锗。
机译:硅上的锗外延
机译:硅/锗和锗的选择性刻蚀:活性刻蚀物种过氧乙酸的选择性分析方法及其对动力学和原位形成平衡的影响
机译:稀土掺杂硅和硅锗合金的低温外延生长