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在低温下的选择性硅锗外延的方法

摘要

在一个实施方式中,提供了一种在基板上选择性地沉积硅锗材料的方法。所述方法包括:将所述基板定位在基板处理腔室内,所述基板上具有介电材料和含硅单晶;将所述基板维持在约450℃或更低的温度处;将所述基板暴露于工艺气体,所述工艺气体包括:硅源气体、锗源气体、蚀刻剂气体、载气和至少一种掺杂剂源气体;和在所述基板上外延地和选择性地沉积第一硅锗材料。

著录项

  • 公开/公告号CN110783171A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201910694021.0

  • 发明设计人 黄奕樵;仲华;

    申请日2019-07-30

  • 分类号

  • 代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 06:51:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-11

    公开

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