MOSFET内阻检测电路及该电路检测MOSFET温度的方法

摘要

本发明涉及电路检测技术领域，特别是一种MOSFET内阻检测电路及利用MOSFET内阻变化检测电路检测MOSFET温度的方法。一种MOSFET内阻检测电路，包括，内置于电机控制器的检测电路和母线采样电阻分压采样电路，用以测出母线采样电阻分压；MOSFET内阻分压采样电路，用以测出MOSFET内阻分压；根据测出的母线采样电阻的分压和MOSFET内阻分压，利用欧姆定律计算出MOSFET的内阻。本发明在电机控制器的软件中植入两种算法，利用母线电流重构电机相电流的算法和利用MOSFET分压检测电机相电流的算法，在不同的温度条件下，从MOSFET内阻获取的相电流值与从母线采样电阻获取的相电流值是不同的。根据他们反馈电压的比例关系可以获取当前MOSFET的结温。