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在加工晶圆中使用的保护片、用于晶圆的处理系统以及晶圆与保护片的组合体

摘要

本发明涉及一种在加工半导体尺寸晶圆(W)中使用的保护片(10,110,210,310,410)。保护片(10,110,210,310,410)包括保护膜(4)和缓冲层(8),该缓冲层(8)附接至保护膜(4)的背表面(4b)。至少在保护片(10,110,210,310,410)的中心区域中,未将粘合剂施加至保护片(10,110,210,310,410)的前表面(4a)和背表面(8b,9b),中心区域具有等于或大于半导体尺寸晶圆(W)外径的外径。另外,本发明涉及一种用在加工晶圆(W)中的保护片(10,310,410),保护片(10,310,410)包括保护膜(4)和缓冲层(8),该缓冲层(8)附接至保护膜(4)的背表面(4b),其中,在保护片(10,310,410)的整个前表面(4a)和整个背表面(8b,9b)上,没有施加粘合剂。而且,本发明涉及一种用于半导体尺寸晶圆(W)处理系统,并且涉及一种组合体,该组合体包括晶圆(W)和保护片(10,110,210,310,410)。

著录项

  • 公开/公告号CN110663106A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社迪思科;

    申请/专利号CN201780090967.5

  • 发明设计人 卡尔·海因茨·普里瓦涉;

    申请日2017-05-18

  • 分类号

  • 代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司;

  • 代理人申健

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 06:47:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/67 申请日:20170518

    实质审查的生效

  • 2020-01-07

    公开

    公开

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