一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法

摘要

本发明公开一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法，包括以下步骤：S1、确定电‑热‑力场耦合下电子设备的失效模式与失效机理；S2、根据步骤S1确定的电子设备失效模式与失效机理，建立多应力耦合下电子设备可靠性物理模型；S3、根据可靠性物理模型，对电子设备进行可靠性仿真分析；S4、根据步骤S3确定的可靠性薄弱环节，对电子设备的可靠性指标进行评估；本方法并不依托可靠性寿命数据，而是从电子设备的工艺参数信息、结构材料信息、工作和使用环境应力情况出发进行分析，可有效避免寿命数据不足的难点，减少成本；可相对准确地找出电子设备的可靠性薄弱环节，进而得到与实际情况更为符合的分析结果。