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一种X射线检测透照几何参数测量方法

摘要

本申请实施例公开了一种X射线检测透照几何参数测量方法,通过建立全局坐标系,确定X射线机、被检设备、成像装置在全局坐标系中的空间坐标,依照空间坐标计算检测时X射线机、被检设备、成像装置的透照几何参数,为CT技术在电力设备现场检测中应用提供基础。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/046 申请日:20191104

    实质审查的生效

  • 2020-01-17

    公开

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