光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法

摘要

本公开提供了一种光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法，涉及光学防伪技术领域，光学防伪元件包括：基材、第一滤光层和发光层；发光层设置在基材和第一滤光层的上方，或者包含在基材内部，形成一体结构；第一滤光层设置在基材下表面或位于基材和发光层之间；第一滤光层允许具有检测波段的波长的第一光线通过；发光层在受到第一光线激发时，向发光层的上方发射出发射光；检测光源包括：光强高于特定值I的日光光源、白光光源、紫外光光源、蓝光光源等。本公开的元件、产品以及检测方法，可以利用多种常用的光源识别光学防伪元件的真伪，可方便借助周围的光源进行检测，提高了伪造门槛，安全性得到了提升。