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一种基于废旧电子产品特征的信息清除参数获取方法

摘要

本发明公开一种基于废旧电子产品特征的信息清除参数获取方法,首先,基于目前市场典型废旧电子产品和专家知识构建特征数据案例库,包括存储介质特征数据库和信息清除特征数据库。接着,通过数据连接线对废旧电子产品进行扫描并识别待信息清除废旧电子产品的存储介质特征和信息清除特征。最后,通过废旧电子产品的上述特征与所构建的特征数据案例库的匹配获取定制化的信息清除参数,即:通过待信息清除废旧电子产品的存储介质特征匹配存储介质特征数据库中相似案例以确定覆写策略、通过待信息清除废旧电子产品的信息清除特征匹配信息清除特征数据库的相似案例以确定清除方案。

著录项

  • 公开/公告号CN110866279A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201911116909.2

  • 发明设计人 汤健;王丹丹;周晓钟;

    申请日2019-11-15

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人张慧

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2023-12-17 06:21:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F21/62 申请日:20191115

    实质审查的生效

  • 2020-03-06

    公开

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