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一种消除摄像模组点子缺陷的ALD制备方法及其产物

摘要

本发明提供了一种消除摄像模组点子缺陷的ALD制备方法及其产物,通过ALD实现光学元件高、低折射率膜层的交替沉积,反应物料以气体形式在反应腔通过吸附沉积到衬底基板上,不存在蒸发或者溅射过程,消除了点子缺陷的来源,因此不会形成大颗粒的点子缺陷,从而大大提高了摄像模组的成像品质,使得ALD在摄像模组的加工过程得到了具有实际性操作意义的应用。

著录项

  • 公开/公告号CN110885972A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州美迪凯光电科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201911060808.8

  • 申请日2019-11-01

  • 分类号C23C16/455(20060101);C23C16/40(20060101);

  • 代理机构33235 杭州华知专利事务所(普通合伙);

  • 代理人杨秀芳

  • 地址 310018 浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道20号大街578号3幢

  • 入库时间 2023-12-17 06:21:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C16/455 申请日:20191101

    实质审查的生效

  • 2020-03-17

    公开

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