一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法

摘要

本发明提供一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法，主要解决了现有技术不具备电压调节功能或现有调节方法已损坏主板、不稳定、无法进行性能调试的问题。该应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法主要包括连线、测试以及上电检测等步骤，该方法不需要对主板上的电路进行改变，减少了对主板的损害；由于电压源是外接的，电压调节范围由外部设备决定，可选用高精度，宽范围的电压源，从而电压调节不受主板回路限制；在缺少主板电路图时，依然可以对主板进行电压性能测试；通过短接电路板，可以实现一般转接卡的功能；通过在转接卡上添加开关控制，可以还原内存模组上电的真实应用测试。

说明书

技术领域

本发明涉及一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法。

背景技术

内存模组的应用测试一般都在计算机主板上进行。在分析内存模组的电 压性能的时候，需要在主板上调整内存模组的电源电压和参考电压的值。现 在的做法是，调整主板上内存模组的电源系统的反馈回路，即将计算机主板 上的电源反馈回路的固定电阻焊下来，替换成滑动变阻器，通过滑动变阻器 改变反馈电阻的大小，从而实现调整内存模组的电源电压和参考电压。

现在有一种内存模组的转接卡，主要用于内存模组的主板级测试，其主 要作用是减少对主板内存卡槽的插拔次数，延长测试主板寿命，但其不具备 电压调节功能。

具体来讲，现有技术的缺点主要包括以下内容：

首先，现有技术通过将固定电阻替换为滑动变阻器来调节电压，由于主 板上固定的电阻尺寸很小，难于手工焊接替换，易于损坏主板；

其次，由于是在稳定的电源电路调节电压，更改后的电压调节范围比较 小，而且不稳定；

再次，在缺少主板电源电路原理图时，不能确定内存模组的电源反馈回 路，从而不能对内存模组做确定工作电压范围的性能测试。

发明内容

本发明提供一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法， 主要解决了现有技术不具备电压调节功能或现有调节方法已损坏主板、不稳 定、无法进行性能调试的问题。

本发明的具体技术解决方案如下：

该应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法包括以下步骤：

1]在内存模组的转接卡上，将内存模组和主板的内存模组槽之间的连接 线断开，断开后设置为两个连接端；其中一个连接端接内存模组，另一个连 接端接主板的内存模组槽；

2]对内存模组的电压性能进行测试

将与接内存模组的连接端和外接数字电源正极连接，由外部电压源来提 供内存模组工作所需的电源电压和参考的电压来完成测试；

3]转换为转接卡

将与接内存模组的连接端和接主板的内存模组槽的连接端连接，即转换 为一般转接卡；

4]模拟真实的内存模组的电源上电

通过电子开关将与接内存模组的连接端和接主板的内存模组槽的连接端 连接，通过接主板的内存模组槽的连接端上的电压来控制电压源是否与接内 存模组的连接端导通。

上述内存模组和主板的内存模组槽之间的连接线为三组。

本发明的优点在于：

本方案中，不需要对主板上的电路进行改变，减少了对主板的损害；由 于电压源是外接的，电压调节范围由外部设备决定，可选用高精度，宽范围 的电压源，从而电压调节不受主板回路限制；在缺少主板电路图时，依然可 以对主板进行电压性能测试；通过短接电路板，可以实现一般转接卡的功 能；通过在转接卡上添加开关控制，可以还原内存模组上电的真实应用测 试。

附图说明

图1为连接线断开增设连接端的转接卡；

图2为外接电压源的转接卡；

图3为添加开关控制的转接卡。

具体实施方式

以下结合附图及具体实施例对本发明进行详述，如图1所示：

在内存模组的转接卡上，将电源电压和参考电压的连接线断开，用两个 焊点分别连接断开的线的两端。

在对内存模组的电压性能进行测试时，将外接数字电源正极与图中的管 脚1、3、5相连，由外部电压源来提供内存模组工作所需的电源电压和参考 的电压。将转接卡上的管角1与2相连，3与4相连，5与6相连，即可实现 一般转接卡的功能。

进一步，需要模拟真实的内存模组的电源上电情况，可通过在电路板上 添加电子开关，通过2，4，6上的电压来控制电压源是否与管角1，3，5导 通，如图3所示。