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天线主副反射面位姿测量系统与副反射面位姿调整方法

摘要

本发明涉及天线主副反射面位姿测量系统与副反射面位姿调整方法,首先对天线主反射面、副反射面分别拍照,获取主反射面坐标系与副反射面坐标系间的初始相对位姿关系,将相机固定在主反射面,保证相机坐标系与天线主反射面坐标系的相对位姿关系不变,然后采用工业相机对副反射面连续拍照,并实时测量天线副反射面坐标系与相机坐标系相对位姿关系,求出天线主、副反射面相对位姿关系,并据此调整副反射面的位姿,可有效改善测量精度,并极大提高测量效率。

著录项

  • 公开/公告号CN110345923A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 孟艳艳;

    申请/专利号CN201810307554.4

  • 发明设计人 孟艳艳;

    申请日2018-04-08

  • 分类号

  • 代理机构郑州睿信知识产权代理有限公司;

  • 代理人崔旭东

  • 地址 450000 河南省郑州市二七区陇海中路66号

  • 入库时间 2024-02-19 14:26:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C11/02 申请日:20180408

    实质审查的生效

  • 2019-10-18

    公开

    公开

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