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原子力显微镜及样品表面性质的测试方法

摘要

本发明公开了一种原子力显微镜及样品表面性质的测试方法。所述原子力显微镜包括:信号发生器、探针组件、Z向压电陶瓷、激光发生器、光电探测器、位移粗调单元、控制器以及样品台,其中,探针组件包括探针以及激励模块,探针包括悬臂梁以及位于悬臂梁第一端的针尖,激励模块与信号发生器连接,用于接收激励信号,并在激励信号的作用下驱动探针在第一方向上偏转,激励模块为非激光光热激励模块。本发明实施例提供的技术方案,使得探针的振动频率大幅提高,从而有效加快了采用非共振轻敲模式测试待测表面性质时的速度,缩短了同一待测表面的测试时间。

著录项

  • 公开/公告号CN110095637A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国家纳米科学中心;

    申请/专利号CN201910381546.9

  • 发明设计人 李鹏;裘晓辉;邵永健;

    申请日2019-05-08

  • 分类号

  • 代理机构北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北一条11号

  • 入库时间 2024-02-19 12:04:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/42 申请日:20190508

    实质审查的生效

  • 2019-08-06

    公开

    公开

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