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高纯稀土氧化物中痕量/超痕量杂质定量测量方法

摘要

本发明提供一种高纯稀土氧化物中痕量/超痕量杂质测量方法。包括:制备导电辅助装置;将装载了稀土氧化物样品的高纯铜柱体置于GDMS中进行检测,溅射;采用粉末掺杂法制备铜基校正样品;GDMS对制备得到的铜基校正样品进行分析,得到相对灵敏度因子RSF,根据相对灵敏度因子及GDMS检测得到的数据,按照公式(2),计算得到稀土氧化物样品中杂质的含量。GDMS为固体直接测量方法,因此相对于目前常用的湿法避免了复杂的样品处理过程,大大提高了分析效率,而且可以避免在消解过程中的元素损失与污染;可同时检测73种元素,且检出限低,对于大部分元素,其定量检出限(LoQ)在ng/g量级,满足痕量/超痕量杂质的准确测量。

著录项

  • 公开/公告号CN110057900A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN201910327118.8

  • 发明设计人 张见营;周涛;

    申请日2019-04-23

  • 分类号

  • 代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴爱琴

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2024-02-19 11:46:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/62 申请日:20190423

    实质审查的生效

  • 2019-07-26

    公开

    公开

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