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荧光增强型纳米探针及其制备方法以及岩石微纳米孔隙的光学显微镜成像方法

摘要

本发明公开了一种荧光增强型纳米探针及其制备方法以及岩石微纳米孔隙的光学显微镜成像方法,该纳米探针包括:纳米粒子、二氧化硅改性层以及荧光染料,二氧化硅改性层附着于纳米粒子表面;荧光染料键合于二氧化硅改性层的表面。该岩石微纳米孔隙的光学显微镜成像方法,其包括:将上述荧光增强型纳米探针注入岩石的裂缝和孔隙中;对充填有所述荧光增强型纳米探针的岩石的孔隙进行光学显微镜成像。将该荧光增强型纳米探针注入岩石,荧光分子不易逸散,与岩石基质及胶结物颜色有明显差异,在光学显微镜下对于孔隙和喉道的识别非常有利,且该荧光增强型纳米探针能长期使用而不考虑荧光性随时间减弱的影响,可长期、准确、方便地反映出岩石的孔隙结构。

著录项

  • 公开/公告号CN109765205A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都理工大学;

    申请/专利号CN201910069641.5

  • 发明设计人 李娜;廖鹏;罗玉兰;李崇瑛;

    申请日2019-01-24

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋南

  • 地址 610000 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号

  • 入库时间 2024-02-19 09:44:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20190124

    实质审查的生效

  • 2019-05-17

    公开

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