毫米波辐射计线列扫描低识别度目标的分析方法和系统

摘要

本发明实施例提出了毫米波辐射计线列扫描低识别度目标的分析方法和系统，主要用于安检系统。确定每一帧图像识别度低的斑块的分别区域的几何中心距离图像的纵向中心线的距离D1，记录到D[i]中，将几何中心在图像中纵坐标记录到Y[i]，确定几何中心的等高线与待测目标轮廓线同侧的交点到图像的纵向中心线的距离D2，并记录到D2[i]中。根据每一帧图像Y[i]值，确定Y[i]的算术平均值Yevr、标准差Ystde值，根据Ystde/Yevr的值，判断斑块是否为可疑目标物或者对D1[i]、D2[i]做数字低通滤波处理得到D1'[i]、D2'[i]，然后从D1'[i]中确定最大值D1'max，将D2'[i]中与帧序号相同的元素命名为D2'max。最后，根据R＝|D1'max‑D2'max|/D1'max，继续判断。本发明为安检系统低可识别度目标提供了更为准确的分析方法。