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用于减少共模信号对差分信号的影响的方法和设备以及包括这种设备的系统的方法和设备

摘要

本公开涉及用于减少共模信号对差分信号的影响的方法和设备以及包括这种设备的系统的方法和设备。共模电压的变化可会对差分采样电路产生不利影响。共模电压的变化可能会改变晶体管开关的导通电阻,而这可意味着对较大的共模信号没有正确地观察到小的信号变化。本公开涉及通过改变对部件的供电或驱动电压来补偿共模电压变化来提高解决小的差分信号变化的能力的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109470904A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 亚德诺半导体无限责任公司;

    申请/专利号CN201811050452.5

  • 申请日2018-09-10

  • 分类号G01R15/14(20060101);G01R1/28(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人欧阳帆

  • 地址 百慕大群岛(英)哈密尔顿

  • 入库时间 2024-02-19 07:32:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R15/14 申请日:20180910

    实质审查的生效

  • 2019-03-15

    公开

    公开

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