Research on Key Technologies of Carrier Electronic Speckle Pattern Interferometry and the Application in Photoacoustic

摘要

摘要 电子散斑干涉测量技术（ElectronicSpecklePatternInterferometry，ESPI）作为一种对光学粗糙表面进行全场无损测量的技术，已被广泛地应用于应变、位移、振动和医学诊断等方面的测量。载波电子散斑干涉（CarrierElectronicSpecklePatternInterferometry，CESPI）作为ESPI的一种，只需一幅或两幅被测物体的载波相关条纹图便能解调出高精度的离面位移量，特别适合于物体动态变形场的无损测量和分析。尽管CESPI代表了电子散斑干涉测量的一个重要发展方向，但目前关于高精度的CESPI技术及其在动态测量中的应用研究仍不成熟。 ...