Thermal performance testing for high power light-emitting diode based on voltage-current characteristics with pulse injection

摘要

热学特性是影响功率型lEd光学和电学特性的主要因素之一,设计了一套基于脉冲式u-I特性的功率型lEd热学特性测试系统,可以测试在不同结温下lEd工作电流与正向电压的关系,从而获得lEd的热学特性参数。该系统通过产生窄脉冲电流来驱动lEd,对其峰值时的电压电流进行采样,同时控制和采集lEd的热沉温度,从而获得不同温度下lEd的u-I特性曲线。与其他u-I测试系统相比,文中采用了窄脉冲(1μS)工作电流,lEd器件Pn结区处于发热与散热的交替过程,不会造成大的热积累,大大提高了测量精度。实验中,对某功率型lEd进行了测试,获得了该器件的电压、电流和结温特性曲线,并利用b样条建立该器件的u-I-T模型,进而实现了对其结温的实时在线检测。