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【2h】

A High-precision Measurement Technique of Flat Mirror Profile Comprising Interferometers and Autocollimator

机译:包含干涉仪和自准直仪的平面镜轮廓的高精度测量技术

摘要

基于三组激光干涉光路与一台自准直仪的光学扫描检测方法,开发可用于大尺寸平面镜二维轮廓的高精度测量技术。通过联立线性方程式与最小二乘法结合的计算算法,可得到平面镜二维轮廓的测量结果及整个测量过程的不确定度值。利用建模仿真整个测量过程,分析不同采样点数n下不确定度数值的变化趋势。此外,搭建基于高精度三坐标测量仪平台上的光学检测系统,试验果表明该技术成功实现对100 MM平面镜二维轮廓的测量,并可实现重复性测量精度在±20 nM范围内。通过与zygO白光干涉系统结果的比较,该检测技术可以实现纳米级别的测量精度。
机译:基于三组激光干涉光路与一台自准直仪的光学扫描检测方法,开发可用于大尺寸平面镜二维轮廓的高精度测量技术。通过联立线性方程式与最小二乘法结合的计算算法,可得到平面镜二维轮廓的测量结果及整个测量过程的不确定度值。利用建模仿真整个测量过程,分析不同采样点数n下不确定度数值的变化趋势。此外,搭建基于高精度三坐标测量仪平台上的光学检测系统,试验果表明该技术成功实现对100 MM平面镜二维轮廓的测量,并可实现重复性测量精度在±20 nM范围内。通过与zygO白光干涉系统结果的比较,该检测技术可以实现纳米级别的测量精度。

著录项

  • 作者单位
  • 年度 2013
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 zh_CN
  • 中图分类
  • 入库时间 2022-08-20 20:14:02

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