Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits

机译：数字电路的自动测试模式生成

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S. Hemalatha; Mrs. K. Srividhya;
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年度 2014
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1. Automatic Test Pattern Generation for Digital Circuits [J] . S. Hemalatha, Mrs. K. Srividhya International Journal of Engineering Research and Applications . 2014,第4期

机译：数字电路的自动测试图案生成
2. Development of the automatic test pattern generation for NPP digital electronic circuits using the degree of freedom concept [J] . Dae Sik Kim, Poong Hyun Seong IEEE Transactions on Nuclear Science . 1995,第4期

机译：使用自由度概念开发用于NPP数字电子电路的自动测试图案生成
3. Automatic Test Generation For Digital Circuits [J] . S. Hemalatha International Journal of Scientific & Technology Research . 2014,第2期

机译：自动生成数字电路测试
4. Automatic test pattern generation for crosstalk glitches in digital circuits [C] . Kyung Tek Lee, Nordquist, C. . 1998

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5. AUTOMATIC TEST GENERATION FOR ELECTRON-BEAM TESTING OF VLSI CIRCUITS [D] . KINCH, RICHARD JOHN 1982

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6. Automatic Design of Digital Synthetic Gene Circuits [O] . Mario A. Marchisio, Jörg Stelling 2011

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7. Automatic Generation of Synchronous Test Patterns for Asynchronous Circuits [O] . Oriol Roig, Jordi Cortadella, Marco A. Peña, 1997

机译：异步电路同步测试模式的自动生成
8. Automatic Test Pattern Generation for Synchronous Sequential Circuits [R] . Konijnenburg, M. H. 1998

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