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【2h】

Impact of process variations and long term degradation on 6T-SRAM cells

机译：工艺变化和长期退化对6T-sRam单元的影响

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Th. Fischer; A. Olbrich; G. Georgakos; B. Lemaitre; D. Schmitt-Landsiedel;
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年度 2007
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1. Impact of process variations and long term degradation on 6T-SRAM cells [J] . Th.Fischer, A.Olbrich, G.Georgakos, Advances in Radio Science . 2007,第12期

机译：工艺变化和长期退化对6T-SRAM单元的影响
2. Aging Degradation Impact on the Stability of 6T-SRAM Bit-cell [J] . S. K. Koushik, B. Lakshmi Indian Journal of Science and Technology . 2015,第20期

机译：老化对6T-SRAM位单元稳定性的影响
3. Aging Degradation Impact on the Stability of 6T-SRAM Bit-cell [J] . S. K. Koushik, B. Lakshmi Indian Journal of Science and Technology . 2015,第20期

机译：老化对6T-SRAM位单元稳定性的影响
4. On the 6T-SRAM Cells Degradation Characterization in Ultra-Scaled CMOS Technologies [C] . Nowak, E., Denais, . 2007

机译：超大规模CMOS技术中6T-SRAM单元的降解特性
5. Initial design variations of American planned towns: Short term and long term impacts on patterns of racial composition and development. [D] . Rowlee, David Donald. 2000

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7. Countermeasures against NBTI degradation on 6T-SRAM cells [O] . E. Glocker, D. Schmitt-Landsiedel, S. Drapatz 2011

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8. Long-Term Degradation Testing of High-Temperature Electrolytic Cells [R] . Stoots, C. M., O'Brien, J. E., Herring, J. S., 2009

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