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机译:使用对表面发射率的光线跟踪校正在电弧炉内进行高温测量
Lee S.K.; Woskov P.P.;
机译:电弧炉(EAF)不同工艺阶段炉渣表面状况和炉膛气氛的光发射分析
机译:环境温度下灰色表面发射率和温度测量的多波段高温分析
机译:晶片发射率校正采用双色热尺寸
机译:用于发射率测绘和粉末融合系统精确表面温度测量的多波长热测定
机译:含电弧炉渣和粒状高炉渣的混凝土的性能比较
机译:电弧炉(EAF)不同工艺阶段炉渣表面条件和炉径的光学发射分析
机译:辐射壁炉中的无校正高温法
机译:具有实时表面发射率补偿的多点高温测定
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