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【2h】

Ultralow-Temperature Measurements of Submicron Devices Nanometer-Scale Semiconductor Devices

机译：亚微米器件纳米级半导体器件的超低温测量

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机译：包含项目目标。

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作者
Kastner Marc A.; Field Stuart B.; Scott-Thomas John H. F.; Meirav Udi; Park Samuel L.;
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年度 1987
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