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【2h】

Hot-carrier reliability assessment in CMOS digital integrated circuits

机译:CmOs数字集成电路中的热载流子可靠性评估

摘要

by Wenjie Jiang.
机译:by wen姐Jiang.

著录项

  • 作者

    Jiang Wenjie 1963-;

  • 作者单位
  • 年度 1998
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类

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