首页> 外文OA文献 >Process monitoring for intelligent manufacturing processes - Methodology and application to Robot Assisted Polishing
【2h】

Process monitoring for intelligent manufacturing processes - Methodology and application to Robot Assisted Polishing

机译:智能制造过程的过程监控 - 机器人辅助抛光的方法和应用

摘要

Afhandlingen beskriver udvikling af en generel metodik for procesovervågning som nøgleelement ved nulfejlbearbejdning. Metodikken bygger på gennemførelse af seks trin: 1) identificering af kvalitetsparametre (Vital Quality Characteristics – VQCs) og afhængige procesparametre (Key Process Variables – KPVs), 2) udvælgelse og karakterisering af sensorer, 3) optimering af sensorplacering, 4) validering af overvågningsløsninger,5) fastlæggelse af en reference for bearbejdningen m.h.t. performance samt 6) datastyret procesvalidering for hvert fremstillet emne.Metodikken er blevet anvendt til udvikling af procesovervågnings og – styringsstrategier vedrørende automatisk End Point Detection – EPD og integreret overfladekarakterisering, i forbindelse med Robot Assisted Polishing – RAP med oscillerende værktøj. VQCs blev identificeret i form af overfladeruhed, overfladedefekter og glans. Poleringsprocessens udvikling i forbindelse med den relative ændring af ruheden blev overvåget indirekte ved brug af Acoustic Emission – AE, friktionskræfter og effektforbrug. Der blev udviklet en dedikeret poleringsarm med integrerede straingauge baserede kraftsensorer samt en miniature AE sensor, til anvendelse både for oscillerende og roterende poleringsværktøj. En kommerciel optisk sensor blev implementeret til karakterisering af de polerede overflader. Det udviklede system blev valideret ved en række eksperimenter, såvel ved slibning med groft sten som ved polering med fin pasta. Resultaterne demonstrerer anvendeligheden af den indirekte overvågning af overfladedannelsen gennem AE- og friktionskraftmålinger til automatisk bestemmelse af EPD. AE signalet blev fundet til at korrelere stærkt med Material Removal Rate – MRR. Stabilisering af de målte friktionskræfter blev fundet til at afspejle en stabilisering af overfladetopografiens gennemsnitlige hældning samt de generelle friktionsforhold ved kontaktfladen mellem værktøj og emne. SandtidsAE- og kraftmålinger tillader også overvågning af procestilstanden og derved en tidlig opdagelse af procesproblemer, med mulighed for hurtigt indgreb for at undgå dannelse af defekter. En processtyringstrategi blev udviklet på baggrund af en fastlæggelse af stationære niveauer for AE og friktionskræfter, som udtryk for en stabilisering af ruheden.Den anvendte optiske sensor blev vist at kunne frembringe pålidelige målinger ved høj hastighed, og derved tillade 100% kvalitetskontrol, ved identificering og lokalisering af såvel større som nanometer små overfladefejl. En robust korrelation blev dokumenteret i forbindelse med glansmåling, mellem ruhedsparameteren Aq fra den optiske sensor og parameteren Sdq fra referencemålinger med et reference-tastsnitinstrument. Det karakteristiske asymptotiske forløb af overfladeruheden i løbet af poleringen blevogså fundet i forbindelse med Aq parameteren.De udviklede løsninger for in-process EPD, procesovervågning samt for integreret karakterisering af den polerede overflade, forøger proceseffektiviteten og udgør robuste systemer for en automatisering af RAP processen. Løsningerne forventes at blive implementeret i næste generations RAP maskiner og medføre betragtelige kvalitetsforbedringer og økonomiske fordele for industrielle brugere af systemet.
机译:本文描述了一种将过程监控作为零故障处理关键要素的通用方法的发展。该方法基于六个步骤的实施:1)关键质量特征(VQC)和相关过程参数(关键过程变量-KPV)的识别,2)传感器的选择和表征,3)传感器放置的优化,4)监控解决方案的验证(5)建立有关以下方面的加工参考性能和6)每个制造项目的计算机化过程验证,该方法已用于开发自动监测端点-EPD和集成表面特性的过程监视和控制策略,以及机器人辅助抛光-带振动工具的RAP。根据表面粗糙度,表面缺陷和光泽度确定了VQC。通过使用声发射-声发射,摩擦力和功率消耗,间接监测了与粗糙度相对变化有关的抛光工艺的发展。开发了专用的抛光臂,该抛光臂具有基于应变仪的集成力传感器以及微型AE传感器,可用于振荡和旋转抛光工具。实施了商用光学传感器以表征抛光表面。所开发的系统通过一系列实验验证,包括用粗石磨和细膏抛光。结果证明了通过AE和摩擦力测量间接监测表面形成对自动确定EPD的实用性。发现AE信号与材料去除率-MRR密切相关。发现所测量的摩擦力的稳定反映了表面形貌的平均斜率的稳定以及在工具和工件之间的界面处的一般摩擦条件。实时AE和力测量还可以监控过程状态,从而及早发现过程问题,并可能进行快速干预以避免缺陷的形成。为了确定稳定的AE和摩擦力,开发了一种过程控制策略以稳定粗糙度,并证明所使用的光学传感器能够高速产生可靠的测量结果,从而实现100%的质量控制,识别和检测。大和纳米小表面缺陷的定位。记录了用于光泽度测量的稳健相关性,该相关性来自光学传感器的粗糙度参数Aq与使用参考键切割仪进行参考测量得到的参数Sdq之间。还发现了与Aq参数有关的抛光过程中表面粗糙度的典型渐近过程,开发出的解决方案可用于过程中的EPD,过程监控以及对被抛光表面的综合表征,从而提高了过程效率并为RAP过程的自动化提供了强大的系统。该解决方案有望在下一代RAP机器中实施,并为系统的工业用户带来重大的质量改进和经济利益。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号