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The Application of Off-Axis Electron Holography to Electrically Biased Single GaN Nanowires for Electrical Resistivity Measurement

机译：离轴电子全息技术在电子偏压单GaN纳米线电阻率测量中的应用

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作者
Yazdi Sadegh; Kasama Takeshi; Beleggia Marco; Ciechonski R.; Kryliouk O.; Wagner Jakob Birkedal;
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作者单位

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年度 2013
总页数
原文格式 PDF
正文语种 eng
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