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Schottky barrier enhancement on n-InP solar cell applications

机译:在n-Inp太阳能电池应用中的肖特基势垒增强

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摘要

It is demonstrated that the Schottky barrier height on n-type InP can be enhanced to values close to the energy bandgap (1.35 eV) by employing a AuZnCr metallization. The process is simple and requires only mild and fast annealing sequences with temperatures not exceeding 500°C. Also, no critical epitaxial growth step of junctions is needed, making the process fairly cheap. Thus, prospects for an efficient and simple solar cell device structure for space application purposes based on highly radiant-resistant InP are greatly improved
机译:结果表明,通过采用AuZnCr金属化工艺,可以将n型InP上的肖特基势垒高度提高到接近能带隙(1.35 eV)的值。该过程很简单,只需要温和快速的退火程序,温度不超过500°C。而且,不需要关键的外延生长关键步骤,使得该过程相当便宜。因此,极大地改善了基于高度抗辐射的InP的用于空间应用的有效且简单的太阳能电池装置结构的前景。

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