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Adhesion of ultrathin ZrO2(111) films on Ni(111) from first principles

机译:从第一性原理看Ni(111)上超薄ZrO2(111)薄膜的附着力

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摘要

We have studied the ZrO2(111)/Ni(111) interface using the ultrasoft pseudopotential formalism within density functional theory. We find that ZrO2(111) adheres relatively strongly at the monolayer level but thicker ceramic films interact weakly with the Ni-substrate. We argue that the cohesion changes character from dominantly image charge interactions for thick ceramic films to more covalent for monolayer ZrO2(111) films. We provide an analysis of energetic, structural and electronic aspects of the ZrO2/Ni interface as a function of the thickness of the oxide layer. We also address the role of the exchange-correlation density functional parameterization for modeling the oxide and metal/oxide interface and discuss the sensitivity of the supercell approximation for metal/oxide interface properties.
机译:我们使用密度泛函理论内的超软伪势形式学研究了ZrO2(111)/ Ni(111)界面。我们发现ZrO2(111)在单层水平上相对牢固地粘附,但是较厚的陶瓷膜与Ni基底的相互作用较弱。我们认为,内聚力的变化是从厚陶瓷膜的显着图像电荷相互作用到单层ZrO2(111)膜的共价键变化。我们提供了ZrO2 / Ni界面的能量,结构和电子方面随氧化物层厚度变化的分析。我们还解决了交换相关密度函数参数化在建模氧化物和金属/氧化物界面方面的作用,并讨论了超级单元近似对金属/氧化物界面性质的敏感性。

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