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【2h】

Bistable switching in supercritical n+-n-n+GaAs transferred electron devices

机译:超临界n + -n-n + Gaas转移电子器件中的双稳态开关

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摘要

Bistable switching in supercritically doped n+-n-n+GaAs transferred electron devices (TED's) is investigated experimentally and interpreted in computer simulations, for which details of the computer program are given. Three switching modes all leading to stable anode domains are discussed, namely: 1) cathode-triggered traveling domain; 2) cathode-triggered accumulation layer; 3) anode-triggered domain. Relative current drops up to 40 percent, and switching times down to 60 ps are obtained in low-duty-cycle pulsed experiments with threshold currents around 400 mA. Optimum device parameters are shown to be as follows: 1) doping in the 3-4 × 1015cm-3range; 2) length around 6 µm; 3) doping gradients below 20 percent; 4) high-quality interfaces.
机译:实验研究了超临界掺杂n + -n-n + GaAs转移电子器件(TED's)中的双稳态开关,并在计算机仿真中对其进行了解释,并给出了计算机程序的详细信息。讨论了三种均导致稳定阳极域的开关模式,即:1)阴极触发的行进域; 2)阴极触发的累积层; 3)阳极触发的区域。在占空比为400 mA的低占空比脉冲实验中,相对电流下降了40%,开关时间下降到60 ps。最佳的器件参数显示如下:1)在3-4×1015cm-3范围内掺杂; 2)长度约6 µm; 3)低于20%的掺杂梯度; 4)高质量的界面。

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