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Compton Backscattering for the Calibration of KEDR Tagging System

机译:康普顿背散射用于KEDR标记系统的校准

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摘要

KEDR detector has the tagging system (TS) to study the gamma-gamma processes.To determine the two-photon invariant mass, the energies of the scattered atsmall angles electrons and positrons are measured by the magnetic spectrometerembedded into the lattice of the VEPP--4M collider. The energy resolution(scattered electron/positron energy resolution divided by the beam energy) ofthis spectrometer varies from 0.6% to 0.03% depending on the electron/positronenergy. The Compton backscattering of laser radiation on the electron/positronbeam is used for the accurate energy scale and resolution calibration of thetagging system. The report covers the design, recent results and current statusof the KEDR TS calibration system.
机译:KEDR探测器具有标记系统(TS),用于研究伽玛-伽玛过程。为确定双光子不变质量,通过嵌入VEPP晶格的电磁光谱仪测量小角度电子和正电子的散射能量- 4M对撞机。该光谱仪的能量分辨率(散射电子/正电子能量分辨率除以束能)取决于电子/正电子能量在0.6%至0.03%之间变化。电子/正电子束上激光辐射的康普顿背向散射用于标记系统的精确能级和分辨率校准。该报告涵盖了KEDR TS校准系统的设计,最新结果和当前状态。

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