机译:快速温度循环和电迁移引起多层互连中的薄膜开裂:实验和建模
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机译:用于检测集成电路中薄膜裂纹的测试芯片设计
机译:用于检测多层互连系统中快速温度循环和电迁移引起的薄膜开裂的测试芯片
机译:Schwarz-Christoffel工具,用于确定由于电迁移而引起的薄膜温度效应。
机译:用于无线供电的神经接口系统的薄膜柔性天线和硅CMOS整流器芯片的协同设计方法和晶圆级封装技术
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