首页> 外文OA文献 >ARC 2014 over-clocking KLT designs on FPGAs under process, voltage, and temperature variation

【2h】

ARC 2014 over-clocking KLT designs on FPGAs under process, voltage, and temperature variation

机译：aRC 2014在工艺，电压和温度变化下对FpGa上的KLT设计进行超频

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Duarte RP; Bouganis C-S;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2015
总页数
原文格式 PDF
正文语种 English
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. ARC 2014 Over-Clocking KLT Designs on FPGAs under Process, Voltage, and Temperature Variation [J] . Duarte Rui Policarpo, Bouganis Christos-Savvas ACM transactions on reconfigurable technology and systems . 2016,第1期

机译：在过程，电压和温度变化下，FPGA上的ARC 2014超时钟KLT设计
2. High resolution time-to-digital converter (TDC) implemented in field programmable gate array (FPGA) with compensated process voltage and temperature (PVT) variations [J] . C. Herve, J. Cerrai, T. Le Caeer Nuclear Instruments & Methods in Physics Research . 2012,第期

机译：在现场可编程门阵列（FPGA）中实现的高分辨率时间数字转换器（TDC），具有补偿的过程电压和温度（PVT）变化
3. High performance, variation-tolerant CNFET ternary full adder a process, voltage, and temperature variation-resilient design [J] . Firouzi Samane, Tabrizchi Sepehr, Sharifi Fazel, Computers and Electrical Engineering . 2019,第期

机译：高性能，变异宽度CNFET三元全加法器工艺，电压和温度变化 - 弹性设计
4. Research of metastability timing characteristics for threshold voltage and process-voltage-temperature variations [C] . Tigran Khazhakyan IEEE East-West Design Test Symposium . 2016

机译：阈值电压和过程电压-温度变化的亚稳态时序特性研究
5. High Speed DRAM Transceiver Design for Low Voltage Applications with Process and Temperature Variation-Aware Calibration [D] . Choi, Yongsuk. 2016

机译：高速DRAM收发器设计，用于工艺和温度变化感知校准的低压应用
6. Design of an MR image processing module on an FPGA chip [O] . Limin Li, Alice M. Wyrwicz -1

机译：FPGA芯片上的MR图像处理模块的设计
7. High speed DRAM transceiver design for low voltage applications with process and temperature variation-aware calibration [O] . Yongsuk Choi -1

机译：高速DRAM收发器设计，用于工艺和温度变化感知校准的低压应用

ARC 2014 over-clocking KLT designs on FPGAs under process, voltage, and temperature variation

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅