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Interconnect yield analysis and fault tolerance for field programmable gate arrays

机译：现场可编程门阵列的互连良率分析和容错

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Imperial Users only

机译：仅帝国用户

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作者
Campregher Nicola;
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年度 2007
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正文语种 eng
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1. Application-Independent Testing of 3-D Field Programmable Gate Array Interconnect Faults [J] . Peng Y.-L., Kwai D.-M., Chou Y.-F., IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems . 2014,第2期

机译：与应用无关的3D现场可编程门阵列互连故障测试
2. Single-configuration fault detection in applicationdependent testing of field programmable gate array interconnects [J] . Kumar, T.N., Almurib, Computers & Digital Techniques, IET . 2013,第3期

机译：现场可编程门阵列互连的应用相关测试中的单配置故障检测
3. Fault-Tolerance in Field Programmable Gate Array with Dynamic Voltage and Frequency Scaling [J] . C. Leong, J. Semiao, M. B. Santos, Journal of Low Power Electronics . 2015,第4期

机译：具有动态电压和频率缩放功能的现场可编程门阵列中的容错
4. Interconnect resources testing and faults diagnosis in field programmable gate arrays [C] . Liao Yongbo, Ruan Aiwu, Wang Yu, 2011 10th International Conference on Electronic Measurement Instruments . 2011

机译：现场可编程门阵列中的互连资源测试和故障诊断
5. A-priori interconnect estimation for field programmable gate arrays. [D] . Balachandran, Shankar. 2005

机译：用于现场可编程门阵列的先验互连估计。
6. An Intelligent Architecture Based on Field Programmable Gate Arrays Designed to Detect Moving Objects by Using Principal Component Analysis [O] . Ignacio Bravo, Manuel Mazo, José L. Lázaro, 2010

机译：基于现场可编程门阵列的智能体系结构设计的主成分分析方法。
7. Interconnect driver design for long wires in field-programmable gate arrays [O] . Edmund Lee, Guy Lemieux, Shahriar Mirabbasi 2006

机译：现场可编程门阵列中长导线的互连驱动器设计
8. Single Event Analysis and Fault Injection Techniques Targeting Complex Designs Implemented in Xilinx-Virtex Family Field Programmable Gate Array (FPGA) Devices. [R] . Berg, M. D., Label, K., Kim, K. 2014

机译：针对在Xilinx-Virtex系列现场可编程门阵列（FpGa）器件中实现的复杂设计的单事件分析和故障注入技术。

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