首页> 外文OA文献 >Effect of CdSe quantum dots on hole transport in poly(3-hexylthiophene) thin films
【2h】

Effect of CdSe quantum dots on hole transport in poly(3-hexylthiophene) thin films

机译:Cdse量子点对聚(3-己基噻吩)薄膜空穴传输的影响

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

This letter demonstrates the effect of cadmium selenide (CdSe) quantum dots on hole transport in poly(3-hexylthiophene) (P3HT) thin films. Current-voltage characteristics of P3HT and P3HT:CdSe thin films have been studied in the temperature range of 288–85 K, in hole only device configurations, i.e., indium tin oxide (ITO)/poly(ethylene-dioxthiophene):polystyrenesulphonate (PEDOT:PSS)/P3HT/Au and ITO/PEDOT:PSS/P3HT:CdSe/Au. The incorporation of CdSe quantum dots in P3HT results in the enhancement in hole current and switches the transport from dual conduction mechanism, viz., trap and mobility models to only trap model. This is attributed to the reduction in characteristic trap energy from 60 to 32 meV and trap density from 2.5×1018 to 1.7×1018 cm−3.
机译:这封信证明了硒化镉(CdSe)量子点对聚(3-己基噻吩)(P3HT)薄膜中空穴传输的影响。研究了P3HT和P3HT:CdSe薄膜在288-85 K温度范围内的电流-电压特性,这是在仅开孔的器件配置中进行的,即氧化铟锡(ITO)/聚(乙烯-二氧噻吩):聚苯乙烯磺酸盐(PEDOT) :PSS)/ P3HT / Au和ITO / PEDOT:PSS / P3HT:CdSe / Au。在P3HT中掺入CdSe量子点会导致空穴电流的增加,并将传输方式从双重传导机制(即陷阱和迁移率模型)转换为仅陷阱模型。这归因于特征陷阱能从60降低到32 meV,陷阱密度从2.5×1018降低到1.7×1018 cm-3。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号